Een korte analyse van de principes en toepassingen van DIC in metallografische microscopen
Wanneer iedereen metallografische microscoopobservaties uitvoert, is er een observatiemethode die differentiële interferentiecontrastmethode wordt genoemd, ook wel DIC-observatiemethode genoemd. Dit is een relatief geavanceerde methode die momenteel alleen wordt gebruikt bij apparatuur van buitenlandse merken. Het specifieke principe is als volgt: Introduceer het.
Componenten die nodig zijn voor een metallografische microscoop: polarisator, analysator, differentiële interferentie DIC-chip (gemaakt van gletsjersteen).
Polarisatoren en analysatoren zijn onmisbare ondersteunende basiscomponenten bij de observatie van orthogonaal gepolariseerd licht van metallografische monsters. Ze worden gemonteerd in de helder/donkerveldverlichtingsconstructie en zijn ook onmisbare componenten voor de differentiële interferentiecontrastmethode. De polarisator van een metallografische microscoop verandert de lichtbron in lineair gepolariseerd licht dat trilt in de oost-west richting; de analysator kan coherent licht verstoren dat aan de interferentievoorwaarden voldoet.
De differentiële interferentie DIC-plaat van een metallografische microscoop is de kerncomponent van de differentiële interferentiecontrastmethode. De dikte ervan verandert enigszins, wat kleine veranderingen in het optische pad of het verschil in het optische pad veroorzaakt, en produceert een duidelijk interferentie-contrasteffect;
Toepassingen van DIC-platen met differentiële interferentie in metallografische microscopen:
Observeer de deeltjes, scheuren, gaten en uitstulpingen op het oppervlak van het object, die in reliëf verschijnen, en u kunt juiste beoordelingen maken.
De oppervlaktevereisten van sommige werkstukken worden verminderd. Zolang bij het polijsten geen corrosie nodig is, is het fasetransformatie-reliëf van martensiet zichtbaar.
Observeer enkele veranderingen aan het oppervlak van deeltjes, zoals observatie van geleidende ionen, enz.
Door de bovenstaande uitleg geloof ik dat iedereen een zeker begrip heeft van het principe en de toepassing van DIC-platen met differentiële interferentie in metallografische microscopen.
