Sommige kenmerken van materialen analyseren met behulp van metallografische microscoop
1. De multi-schaal aard van materiaalmicrostructuur: atoom- en moleculaire niveaus, kristaldefectniveaus zoals dislocaties, korrelmicrostructuurniveaus, microscopische microstructuurniveaus, macroscopische microstructuurniveaus, enz.
2. Ongelijke microstructuur van materiaalmicroscopen: werkelijke microstructuren vertonen vaak geometrische morfologie, chemische samenstelling en microscopische eigenschappen zoals microhardheid en lokale elektrochemische graad;
3. De directionaliteit van materiaalmicrostructuur, inclusief anisotropie van korrelmorfologie, directionaliteit van lage vergrotingsstructuur, kristallografische voorkeursoriëntatie en directionaliteit van macroscopische eigenschappen van materialen, moeten worden geanalyseerd en afzonderlijk worden gekenmerkt;
4. De variabiliteit van materiaalmicrostructuur: veranderingen in chemische samenstelling, faseversie en weefselevolutie veroorzaakt door externe factoren en tijd kan allemaal leiden tot veranderingen in materiaalmicrostructuur. Daarom moet, naast kwalitatieve en kwantitatieve analyse van statische microstructuurmorfologie, aandacht worden besteed aan de vraag of er behoefte is om het fase-overgangsproces van vaste toestand, de evolutiekinetiek van de microstructuur en het evolutiemechanisme te bestuderen;
5. De fractale kenmerken die kunnen bestaan in de microstructuur van materialen en de resolutieafhankelijke kenmerken die kunnen bestaan in specifieke metallografische waarnemingen kunnen leiden tot een sterke afhankelijkheid van kwantitatieve analyseresultaten van beeldresolutie. Dit is vooral belangrijk bij het kwantitatief analyseren van de oppervlaktemorfologie van materiaalbreukoppervlakken en het opslaan en verwerken van digitale beeldbestanden van microstructuren;
6. De beperkingen van niet -kwantitatief onderzoek naar materiaalmicrostructuur: hoewel kwalitatief onderzoek naar microstructuur nog steeds kan voldoen aan de behoeften van materiaaltechniek, vereist materiaalwetenschapsanalyse altijd kwantitatieve bepaling van de geometrische morfologie van microstructuur en foutanalyse van de verkregen kwantitatieve analyseresultaten.
