Toepassingen van metallurgische microscopen in diverse industrieën
Het is voor het eerst afgeleid van de metallografie en heeft als hoofddoel het observeren van de metallografische organisatie van professionele instrumenten. Het wordt specifiek gebruikt om de metallografische organisatie van ondoorzichtige objecten zoals metalen en mineralenmicroscopen te observeren. Deze ondoorzichtige objecten kunnen niet worden waargenomen met de gewone microscoop met doorvallend licht, dus het belangrijkste verschil tussen metallografische en gewone microscopen is dat de eerste het licht reflecteert, terwijl de laatste de verlichting met doorvallend licht veroorzaakt.
Metallografische microscoop heeft de kenmerken van goede stabiliteit, heldere beeldvorming, hoge resolutie, groot en vlak gezichtsveld. Het kan niet alleen microscopische observaties op het oculair maken, maar ook de realtime dynamische beelden op het beeldscherm van de computer (digitale camera) observeren en de vereiste foto's bewerken, opslaan en afdrukken, die voornamelijk op het gebied van hardware worden gebruikt. snijden, IC-componenten, LCD/LED enzovoort.
Omdat er vijf soorten lenzen zijn voor metallurgische microscoop: EPI helderveldfluorescentie; BD helderveld en donkerveld; SLWD superlange werkafstand; ELWD verbeterde werkafstand; met correctiering. In de hardware-industrie zijn er enkele hardware, de reflectie is ernstiger, je kunt BD helderveld- en donkerveldobjectieflens kiezen voor observatie. Een ander voorbeeld: in de LCD-industrie, observatie en meting van geleidende deeltjes, kan een metallurgische microscoop ook worden uitgerust met DIC, waardoor het object meer driedimensionaal kan worden gezien. Omdat het met gepolariseerd licht is, twee sets filters, de vorming van gepolariseerd licht microscoopobservatietechnologie, volgens de dubbelbrekende eigenschappen, richtingsverandering in de richting van het lichtpad, uiteraard alleen gepolariseerd met het gebruik van de DIC, individueel heeft weinig betekenis. Metallografische microscoop wordt gebruikt voor IC-componenten, metallografische secties en andere metingen en analyses op microgrootte. Kan gebruik maken van intelligente software Iview-DIMS-meting, hoge mate, effectief menselijke fouten bij het meten verminderen. Gemakkelijk te leren en te gebruiken, kan gemakkelijk het punt, de lijn, de boog, de halve kromming, de rechte kromming, de hoek en andere gerelateerde afmetingen van de meting en analyse bereiken, gemakkelijk om foto's van de meting te maken en een verscheidenheid aan testrapporten aan te passen.
