+86-18822802390

Verschillen in toepassingen tussen rechtopstaande metallografische microscopen en omgekeerde metallografische microscopen

Jul 12, 2025

Verschillen in toepassingen tussen rechtopstaande metallografische microscopen en omgekeerde metallografische microscopen

 

Het verschil tussen rechtopstaand en omgekeerd is eenvoudigweg dat het rechtopstaande monster eronder wordt geplaatst en het omgekeerde monster erboven. De rechtopstaande objectieflens is naar beneden gericht en de omgekeerde objectieflens is naar boven gericht.


Omgekeerde metallografische microscoop wordt vaak gebruikt in fabriekslaboratoria, wetenschappelijke onderzoeksinstellingen en universiteiten omdat het observatieoppervlak van het monster samenvalt met het oppervlak van de werktafel en het observatieobjectief zich onder de werktafel bevindt terwijl naar boven wordt geobserveerd. Deze observatievorm wordt niet beperkt door de hoogte van het monster, en slechts één observatieoppervlak is vlak bij het voorbereiden van het monster. De omgekeerde metallografische microscoopbasis heeft een groot steunoppervlak, een laag zwaartepunt en is stabiel en betrouwbaar. Het oculair en het steunoppervlak zijn 45 graden gekanteld voor comfortabele observatie.


De rechtopstaande metallografische microscoop heeft dezelfde basisfuncties als de omgekeerde metallografische microscoop. Naast het analyseren en identificeren van metaalmonsters met een hoogte van 20-30 mm, wordt het op grotere schaal gebruikt voor transparante, semi-transparante of ondoorzichtige stoffen, omdat het voldoet aan de dagelijkse menselijke gewoonten. De rechtopstaande metallografische microscoop produceert tijdens observatie een positief beeld, wat de observatie en identificatie van de gebruiker aanzienlijk vergemakkelijkt. Naast het analyseren en identificeren van metaalmonsters met een hoogte van 20-30 mm, kan het observeren van doelen groter dan 3 micron en kleiner dan 20 micron, zoals metaalkeramiek, elektronische chips, gedrukte schakelingen, LCD-substraten, films, vezels, korrelige voorwerpen, coatings en andere materialen, goede beeldeffecten op hun oppervlaktestructuren en sporen bereiken.

 

3 Continuous Amplification Magnifier -

Aanvraag sturen