Verschillen in de toepassing van orthogonale en omgekeerde metallurgische microscopen
Het verschil tussen voorwaarts en omgekeerd is simpelweg dat het voorwaartse monster onderaan wordt geplaatst en het omgekeerde monster erboven wordt geplaatst. De objectieflens wordt naar beneden geplaatst in de voorwaartse positie en naar boven in de omgekeerde positie.
Omgekeerde metallografische microscoop, vanwege de waarneming van het monster met de voorkant naar beneden en het oppervlak van de tafel overlapt, bevindt het observatiedoel zich onder de tafel, observatie naar boven, deze vorm van observatie is niet onderworpen aan de beperkingen van de hoogte van het monster, zolang als de voorbereiding van monsters, zolang een observatieoppervlak plat is, dus de fabriekslaboratoria, wetenschappelijke onderzoeksinstellingen en hogescholen en universiteiten die de gemeenschappelijke keuze onderwijzen. Het omgekeerde metallografische microscoopbasissteungebied is groter, lager zwaartepunt, stabiel en betrouwbaar, oculairs en steunoppervlak gekanteld op 45 graden, comfortabele observatie.
Orthogonale metallografische microscoop heeft dezelfde basisfuncties als omgekeerde metallografische microscoop, naast de hoogte van 20-30mm metalen exemplaren voor analyse en identificatie, omdat deze in overeenstemming is met de dagelijkse gewoonten van mensen en daarom op grotere schaal wordt gebruikt in transparante , semi-transparante of ondoorzichtige stoffen. De orthogonale metallografische microscoop heeft een positief beeld bij het observeren, wat de observatie en identificatie van de gebruiker groot maakt. Naast de analyse en identificatie van metalen exemplaren met een hoogte van 20-30mm, kan het ook worden gebruikt om doelen groter dan 3 micron en kleiner dan 20 micron te observeren, zoals de structuur en sporen op het oppervlak van metaal keramiek, elektronische chips, gedrukte schakelingen, LCD-substraten, dunne films, vezels, korrelige voorwerpen, beplating en andere materialen, met uitstekende beeldresultaten.
