Uitbreiding van digitale multimeter capaciteitsmeetfunctie
1. Online meting van capaciteit
Volgens de eigenschappen van differentiële integrale circuits kan de meting van capaciteit worden omgezet in spanningsmeting.
Het kerngedeelte van het circuit CX/V neemt een eenvoudig actief RC -inverse differentiatie- en integratiecircuit aan. De WEN -oscillator genereert een vaste frequentie AC -signaal VR, die het CX/V -conversiecircuit opwindt om een AC -spanning V 0 (V1) te verkrijgen evenredig met CX. Na te zijn gefilterd door een tweede-orde banddoorlaatfilter om rommel buiten de vaste frequentie te verwijderen, wordt het verder onderworpen aan AC/DC om een DC-uitgangsspanning V te verkrijgen die evenredig is aan CX. Wanneer de AC -signaal VR het CX/V -circuit opwindt, is de uitgangsspanning van de inverterende integrator
Dat wil zeggen, de gemeten capaciteit CX is evenredig met de uitgangsspanning C {{0}}, waardoor CX → V -conversie wordt bereikt. Om het basisniveau van de capaciteit te matchen met het 2V -niveau van de digitale multimeter, is de oscillatiefrequentie van de WEN -oscillator geselecteerd als 400H -200 k ω -2 m Ω, overeenkomend met een gemeten capaciteitsbereik van 20 μ f {-2 μ f -200 nf -20 nf -2 nf.
2. Meet kleine condensatoren
Het bereik van een typische multimeter van drie en een half cijfer voor het meten van capaciteit is 2000pf tot 20 μF en het is machteloos voor het meten van kleine condensatoren onder 1PF. Volgens de capaciteitsimpedantiemethode en met behulp van hoogfrequente signalen is het mogelijk om kleine condensatoren te meten. Het meetcircuitdiagram wordt getoond in figuur 2. CX is de gemeten capaciteit en RF is de feedbackweerstand aan het omkeeruiteinde. Wanneer de ingangsfrequentie van het sinussignaal VI F is, is de impedantie gepresenteerd op CX en de versterking van de operationele versterker: wanneer A en RF constant zijn, is de frequentie van het sinussignaal F omgekeerd evenredig met de gemeten capaciteit CX. Om kleinere condensatoren te meten, gebruikt u hoogfrequente signalen voor meting.
