Technisch principe van röntgenfluorescentielaagdiktemeter
Principe van X-fluorescentie laagdiktemeter
Het principe van de XRAY-diktemeter is het omzetten en meten van de dikte op basis van de intensiteitsverzwakking van de XRAY die het te meten object binnendringt, dat wil zeggen het meten van de hoeveelheid röntgenstralen die door de te testen stalen plaat wordt geabsorbeerd, en bepalen de dikte van het te meten object op basis van de energiewaarde van de röntgenstralen. . Het ontvangen signaal wordt door de röntgendetector omgezet in een elektrisch signaal, versterkt door een voorversterker en vervolgens omgezet in een daadwerkelijk diktesignaal door een speciaal besturingssysteem voor diktemeters dat intuïtief aan mensen wordt weergegeven.
Toepassingsgebied van röntgenfluorescentiediktemeter
XRAY-diktemeter is geschikt voor bedrijven die metallurgische materialen produceren, zoals aluminiumplaten, koperen platen, stalen platen, enz. Het kan worden gecombineerd met walserijen en worden gebruikt bij warmwalsen, gietwalsen, koudwalsen en foliewalsen. Onder hen kan de XRAY-diktemeter ook worden gebruikt om automatisch de dikte van de plaat te regelen tijdens het productieproces van koudwalsen, foliewalsen en gedeeltelijk warmwalsen.
Inleiding tot de laagdiktemeter voor röntgenfluorescentie:
De röntgenfilmdiktetester kan worden gebruikt voor het meten van het galvaniseren van legeringen of meerlaags galvaniseren, inclusief loodvrij soldeer. Het kan nauwkeurige, snelle en eenvoudige elementanalyse bieden, evenals analyse van galvanische oplossingen, en heeft een breed scala aan toepassingen. Met behulp van het besturingssysteem Office van Microsoft kunnen inspectierapporten eenvoudig en snel worden afgedrukt.
Druk gewoon op de laserfocusknop om automatisch scherp te stellen. Bij het meten van monsters met hoogteverschillen wordt een automatische stopfunctie geconfigureerd om botsingen tussen het monster en het instrument te voorkomen.
De röntgenfilmdiktetester is hoofdzakelijk een röntgensysteem gebaseerd op kernbesturingssoftware voor laagdiktemeting en materiaalanalyse. Met behulp van een nieuwe wiskundige rekenmethode, FP (Fundamental Parameter), DCM (Distenco Controlled Measurement) en krachtige computerfuncties worden de laagdikte berekend. Met de verbeterde softwarefuncties wordt de procedure voor het meten van complexere coatings vereenvoudigd en zelfs zonder de noodzaak van standaardstukken is de meting hetzelfde.
Productvoordelen van röntgenfluorescentielaagdiktemeter:
1: Compact structureel ontwerp verbetert de efficiëntie en nauwkeurigheid.
2: Bij gebruik van een halfgeleiderontvanger zijn de resolutie, stabiliteit en gevoeligheid meerdere malen hoger dan die van traditionele ontvangers op merkschaal, en de nauwkeurigheid is meer dan 30% hoger dan die van traditionele röntgenstraling. Het presteert beter bij het testen van dun goud (Au).
3: Kan gegalvaniseerde lagen, coatings, films en vloeistoffen meten die typische elementen bevatten met atoomnummers van 17 tot 92. Het kan materialen onderscheiden en kwalitatief of kwantitatief het samenstellingspercentage van legeringsmaterialen meten. Hij kan tot 5 lagen tegelijk meten en tot 25 componenten analyseren.
4: Een verscheidenheid aan primaire filters en collimatoren om aan verschillende behoeften te voldoen.
5: Variabele brandpuntsafstand past zich aan complexe monstermetingsbehoeften aan.
6: Modulair ontwerp maakt reparatie en onderhoud eenvoudiger.
7: Eenvoudige installatie en vereist slechts een USB-kabel om verbinding te maken met de computer.
8: Klein ruimtebeslag en lichtgewicht ontwerp.
