Het verschil tussen een elektronenmicroscoop en een metallografische microscoop
Scanning ElectronMicroscope, afgekort als SEM, is een complex systeem dat elektronenoptische technologie, vacuümtechnologie, fijne mechanische structuur en moderne computerbesturingstechnologie condenseert. De scanning-elektronenmicroscoop verzamelt de door het elektronenkanon uitgezonden elektronen in een kleine elektronenbundel door een meertraps elektromagnetische lens onder invloed van een versnellende hoogspanning. Het scannen van het monsteroppervlak stimuleert verschillende informatie, en door de informatie te ontvangen, te versterken en weer te geven kan het monsteroppervlak worden geanalyseerd. De interactie tussen invallende elektronen en het monster produceert de soorten informatie weergegeven in figuur 1. De tweedimensionale intensiteitsverdeling van deze informatie verandert met de kenmerken van het monsteroppervlak (deze kenmerken omvatten oppervlaktemorfologie, samenstelling, kristaloriëntatie, elektromagnetische eigenschappen, enz.), wat een sequentiële en proportionele conversie is van de informatie verzameld door verschillende detectoren. Het videosignaal wordt omgezet in een videosignaal en vervolgens naar een synchroon scannende beeldbuis gestuurd en de helderheid ervan wordt gemoduleerd om een gescand beeld te verkrijgen dat de toestand van het oppervlak van het monster weerspiegelt. Als het door de detector ontvangen signaal digitaal wordt verwerkt en omgezet in een digitaal signaal, kan het verder worden verwerkt en opgeslagen door de computer. Rasterelektronenmicroscopie wordt vooral gebruikt om dikke preparaten met grote hoogteverschillen en grove oneffenheden waar te nemen. Daarom wordt het scherptediepte-effect benadrukt in het ontwerp. Het wordt over het algemeen gebruikt om breuken en natuurlijke oppervlakken te analyseren die niet kunstmatig zijn bewerkt.
Elektronenmicroscoop en metallurgische microscoop
1. Verschillende lichtbronnen: Metallografische microscopen gebruiken zichtbaar licht als lichtbron, en scanning-elektronenmicroscopen gebruiken elektronenbundels als lichtbron voor beeldvorming.
2. Verschillende principes: Metallografische microscopen gebruiken het principe van geometrische optica voor beeldvorming, terwijl scanning-elektronenmicroscopen hoogenergetische elektronenbundels gebruiken om het monsteroppervlak te bombarderen om verschillende fysieke signalen op het monsteroppervlak te stimuleren, en vervolgens verschillende signaaldetectoren te gebruiken om te ontvangen de fysieke signalen en zet deze om in beelden. informatie.
3. Verschillende resoluties: vanwege de interferentie en diffractie van licht kan de resolutie van een metallografische microscoop slechts beperkt worden tot 0.2-0.5um. Omdat de rasterelektronenmicroscoop elektronenbundels als lichtbron gebruikt, kan de resolutie tussen 1-3nm liggen. Daarom behoort de weefselobservatie onder de metallografische microscoop tot analyse op micronniveau, terwijl de weefselobservatie onder de scanning-elektronenmicroscoop tot analyse op nanoniveau behoort.
4. Verschillende scherptediepte: Over het algemeen ligt de scherptediepte van een metallografische microscoop tussen 2-3um, dus er worden extreem hoge eisen gesteld aan de gladheid van het oppervlak van het monster, dus het monstervoorbereidingsproces is relatief ingewikkeld. De scanning-elektronenmicroscoop heeft een grote scherptediepte, een groot gezichtsveld en een driedimensionaal beeld, en kan direct de fijne structuren van de oneffen oppervlakken van verschillende monsters waarnemen.
