Het verschil tussen atoomkrachtmicroscoop en optische microscoop en elektronenmicroscoop
Het belangrijkste verschil tussen AFM en concurrerende technologieën zoals optische en elektronenmicroscopie is dat AFM geen gebruik maakt van lenzen of lichtstralen. Het wordt dus niet beperkt door ruimtelijke resolutie als gevolg van diffractie en aberraties, en vereist geen voorbereiding van de ruimte voor het richten van de straal (door een vacuüm te creëren) en het kleuren van het monster.
Er zijn verschillende soorten scanning microscopen, waaronder scanning probe microscopie (waaronder AFM, scanning tunneling microscopie (STM) en near-field scanning optische microscopie (SNOM/NSOM), STED microscopie (STED), evenals scanning elektronenmicroscopie en elektrochemische atomaire microscopie. krachtmicroscopie EC-AFM). Hoewel SNOM en STED monsters verlichten met zichtbaar, infrarood en zelfs terahertz-licht, wordt hun resolutie niet beperkt door de diffractielimiet.
