+86-18822802390

Het verschil tussen de toepassing van een rechtopstaande metallografische microscoop en een omgekeerde metallografische microscoop

Jun 26, 2023

Het verschil tussen de toepassing van een rechtopstaande metallografische microscoop en een omgekeerde metallografische microscoop

 

Het verschil tussen de toepassing van een rechtopstaande metallografische microscoop en een omgekeerde metallografische microscoop
Het verschil tussen rechtopstaand en omgekeerd is simpelweg dat het rechtopstaande monster eronder wordt geplaatst en het omgekeerde monster erboven wordt geplaatst. Rechtopstaande objectieven wijzen naar beneden, omgekeerde objectieven wijzen naar boven.
Omgekeerde metallurgische microscoop, aangezien het observatieoppervlak van het monster samenvalt met het oppervlak van de werkbank naar beneden, de observatieobjectieflens zich onder de werkbank bevindt en naar boven wordt waargenomen, wordt deze observatievorm niet beperkt door de hoogte van het monster, zolang er maar één het observatieoppervlak is vlak bij het voorbereiden van het monster. Daarom wordt het veel gebruikt in fabriekslaboratoria, wetenschappelijke onderzoeksinstellingen en hogescholen. De basis van de omgekeerde metallografische microscoop heeft een groot steungebied, een laag zwaartepunt, een stabiele en betrouwbare werking, en het oculair en het steunvlak staan ​​onder een hoek van 45 graden, waardoor observatie comfortabel is.


De rechtopstaande metallografische microscoop heeft dezelfde basisfuncties als de omgekeerde metallografische microscoop, behalve de analyse en identificatie van metaalmonsters met een hoogte van 20-30mm, omdat het overeenkomt met de dagelijkse gewoonten van mensen, wordt het op grotere schaal gebruikt in transparante , doorschijnende of ondoorzichtige stof. De rechtopstaande metallurgische microscoop vormt een positief beeld tijdens observatie, wat de observatie en identificatie van de gebruiker een groot gemak biedt. Naast de analyse en identificatie van metaalmonsters met een hoogte van 20-30mm, observatiedoelen groter dan 3 micron en kleiner dan 20 micron, zoals cermets, elektronische chips, gedrukte schakelingen, LCD-substraten, films, vezels, korrelige objecten, coatings en andere materialen op het oppervlak De structuur en sporen kunnen een goed beeldvormend effect hebben.

 

3USB Microscope -

Aanvraag sturen