Staande metallografische microscoop reflecterende microscoop
Belangrijkste toepassingen en kenmerken
Reflecterende microscoop en rechtopstaande metallografische microscoop zijn veelgebruikte professionele experimentele instrumenten op afdelingen zoals geologie, minerale hulpbronnen, metallurgie en aanverwante instellingen voor hoger onderwijs. Ze zijn geschikt voor het observeren van transparante, semi-transparante of ondoorzichtige materialen in de elektronische, metallurgische, chemische en instrumentatie-industrie, zoals metaalkeramiek, geïntegreerde blokken, printplaten, vloeibare kristalplaten, dunne films, vezels, coatings en andere niet-metalen materialen. Ze zijn ook geschikt voor observatie en analyse in de farmaceutische sector, land- en bosbouw, scholen en wetenschappelijke onderzoeksafdelingen. Het is ook een ideaal instrument voor onderzoek op het gebied van de metallurgie, mineralogie, precisietechniek, elektronica en andere gebieden.
De DMM-200C computergestuurde reflecterende microscoop met drie lenzen (rechtopstaande metallografische microscoop) is een hightech product dat is ontwikkeld door een combinatie van geavanceerde optische microscopietechnologie, geavanceerde foto-elektrische conversietechnologie en computerbeeldvormingstechnologie. Het kan worden gebruikt om metallografische afbeeldingen handmatig te observeren, maar ook om gemakkelijk en tijdig metallografische afbeeldingen op computermonitors te observeren. Het kan ook op elk moment metallografische afbeeldingen vastleggen en opnemen voor analyse, beoordeling en andere doeleinden van metallografische diagrammen. Metallografische foto's met hoge pixels kunnen ook worden opgeslagen of afgedrukt.
2, de belangrijkste technische specificaties van reflecterende microscoopinstrumenten
Oculair grootveld WF10X (diameter 18 mm) objectief vlakveld achromatisch (zonder afdekglas) vergroting/numerieke opening werkafstand PL5X/0.1218.3PLL10X/{{16} }.258.9PLL40X/0.60 (veer) 3.7PL60X/0.85 (veer) 0,26 oculaircilinder type met drie oculair roterende as, 30 graden gekanteld, inclusief polarisatiedetectieplaat werktafel longitudinale beweging: 50 mm laterale beweging: 70 mm instrumentlichaam grove afstelling en fijnafstelling handwiel, fijnafstelling rasterwaarde van 0,002 MM (basis en beugel) Polarisatie-apparaat kan worden geplaatst polarisatieplaat, verticaal verlichtingsapparaat, kan algemene metallografische analyses en deeltjesanalysetests uitvoeren, en kan ook ondoorzichtigheid detecteren. Analyseer en observeer het object. Filtergroep blauw, geel, groen, mat scherpstelmechanisme coaxiaal grof microscherpstelmechanisme, scherpstelbereik 15 mm microrasterwaarde 2 μm verlichtingssysteem vallende verlichting 6V20W, halogeenlamp, helderheid instelbaar, met polarisator reflecterende microscoopsysteemcomponenten 1. Metallografische microscoop DMM {30}}. Computeradapterspiegel 3. Kleurencamera (CCD) 4. A/D-converter (apparatuur voor kleurenbeeldverwerving) 5. Computer (optioneel) selectiegedeelte voor lichtmicroscopen 1. Metallografische analysesoftware 2. Vlakveldoculair: 16 x 32 miljoen pixel imager, Imager met 3 miljoen pixels, imager met 4 miljoen pixels Reflecterende microscoopvergelijking van vergelijkbare instrumenten 1. DMM-200 M-200C rechtopstaande metallografische microscoop 2, DMM-200D computergestuurde metallografische microscoop 3, DMM{ {46}}C computergestuurde metallografische microscoop 4 DMM-220D digitale metallografische microscoop 6. Reflecterende microscoopaccessoires 1. Reflecterende microscooplamp 2. Reflecterende microscooplichtbron 3. Polarisatieapparaat 4. Reflecterende microscoopcamerasysteem
