Principes van conventionele laagdiktemeters
De deklaag die wordt gevormd voor oppervlaktebescherming en decoratie van materialen, zoals coatings, plateerlagen, coatings, stickers, chemisch gegenereerde films, enz., wordt in relevante nationale en internationale normen coating genoemd.
Het meten van de laagdikte is een belangrijk onderdeel geworden van de kwaliteitscontrole van de verwerkende industrie en de oppervlaktetechniek, en is een noodzakelijk middel om producten aan uitstekende kwaliteitsnormen te laten voldoen. Om onze producten te internationaliseren, zijn er duidelijke vereisten voor de dikte van de coating in China's geëxporteerde goederen en buitenlandse-gerelateerde projecten.
De belangrijkste methoden voor het meten van de laagdikte zijn de wigsnijmethode, de lichtsnijmethode, de elektrolysemethode, de meetmethode voor het dikteverschil, de weegmethode, de röntgenfluorescentiemethode, de bètastraal-terugverstrooiingsmethode, de capaciteitsmethode, de magnetische meetmethode en de wervelstroommeetmethode. De eerste vijf van deze methoden zijn destructieve detectie, die omslachtige meetmethoden en lage snelheid heeft, en vooral geschikt is voor monsterinspectie volgens het principe van conventionele laagdiktemeters.
De röntgen- en bètastralingsmethoden zijn contactloze, niet-destructieve metingen, maar de apparatuur is complex en duur en het meetbereik is klein. Vanwege de aanwezigheid van radioactieve bronnen moeten gebruikers voldoen aan de voorschriften inzake stralingsbescherming. Met de röntgenmethode kunnen extreem dunne coatings, dubbele coatings en legeringscoatings worden gemeten. De bètastraalmethode is geschikt voor het meten van coatings en substraten met atoomnummers groter dan 3. De capaciteitsmethode wordt alleen gebruikt voor het meten van de dikte van isolatiecoatings op dunne geleiders.
Met de voortdurende vooruitgang van de technologie, vooral de introductie van microcomputertechnologie in de afgelopen jaren, hebben diktemeters die magnetische en wervelstroommethoden gebruiken verdere vooruitgang geboekt in de richting van miniaturisatie, intelligentie, multifunctionaliteit, hoge precisie en bruikbaarheid. De resolutie van de meting heeft 0,1 micron bereikt en de nauwkeurigheid kan 1% bereiken, wat aanzienlijk is verbeterd. Het heeft een breed scala aan toepassingen, een breed meetbereik, eenvoudige bediening en lage kosten, waardoor het een veelgebruikt diktemeetinstrument is in de industrie en in wetenschappelijk onderzoek.
Het gebruik van niet-destructieve methoden beschadigt de coating of het substraat niet en heeft een hoge detectiesnelheid, waardoor op economische wijze een grote hoeveelheid testwerk kan worden uitgevoerd.
