Systeemstructuur van Atomic Force Microscopie (AFM).
1. Krachtdetectiesectie:
In het systeem van atomaire krachtmicroscopie (AFM) is de te detecteren kracht de van der Waals-kracht tussen atomen. In dit systeem wordt dus een cantilever gebruikt om de krachtveranderingen tussen atomen te detecteren. Deze micro-cantilever heeft bepaalde specificaties, zoals lengte, breedte, elasticiteitscoëfficiënt en vorm van de naaldpunt, en de selectie van deze specificaties is gebaseerd op de kenmerken van het monster en verschillende bedrijfsmodi, en er worden verschillende soorten sondes geselecteerd.
2 Positiedetectiesectie:
In het systeem van atomaire krachtmicroscopie (AFM) zal de cantilever-cantilever zwaaien als er interactie is tussen de naaldpunt en het monster. Wanneer de laser wordt bestraald aan het uiteinde van de cantilever, zal de positie van het gereflecteerde licht daarom ook veranderen als gevolg van de cantilever-zwaai, wat resulteert in het genereren van offset. In het hele systeem wordt de laserspotpositiedetector gebruikt om de offset te registreren en om te zetten in een elektrisch signaal voor signaalverwerking door de SPM-controller.
3 Feedbacksysteem:
In het Atomic Force Microscoop (AFM)-systeem wordt het signaal, nadat het is opgenomen door een laserdetector, gebruikt als een feedbacksignaal in het feedbacksysteem als een intern aanpassingssignaal, en drijft het de scanner, meestal gemaakt van piëzo-elektrische keramische buizen, aan om te bewegen om de juiste kracht tussen het monster en de naaldpunt te behouden.
Atoomkrachtmicroscopie (AFM) combineert de bovengenoemde drie delen om de oppervlaktekenmerken van het monster weer te geven: in het AFM-systeem wordt een kleine cantilever gebruikt om de interactie tussen de naaldpunt en het monster waar te nemen. Deze kracht zorgt ervoor dat de cantilever gaat zwaaien, waarna de laser wordt gebruikt om het uiteinde van de cantilever te bestralen. Wanneer de schommel wordt gevormd, zal de positie van het gereflecteerde licht veranderen, waardoor een offset ontstaat. Op dit moment zal de laserdetector deze offset registreren en op dat moment ook het feedbacksysteem voorzien van het signaal om de juiste aanpassing van het systeem te vergemakkelijken. Ten slotte worden de oppervlaktekarakteristieken van het monster gepresenteerd in de vorm van een afbeelding.
