Geheugenchips meten met een multimeter
Er zijn 64 datapinnen op het moederbord en het geheugen, D0-D63. Om de databitpinnen van het geheugen te beschermen, is aan alle 64 databitpinnen D0-D63 een weerstand (10 ohm) met een verschillende weerstandswaarde toegevoegd om de stroom te beperken. Het belangrijkste principe van de tester is om elke databitpin van de geheugenchip herhaaldelijk te testen met behulp van een programma, om te zien of er kapotte of kortgesloten databitpinnen zijn, evenals de klokpin en adrespin van de chip.
Bij het testen van chips met een multimeter kan dus ook de methode van een tester worden gebruikt. Zolang de rode pen met aarde is verbonden (pin 1) en de zwarte pen de weerstand van de ontladingsweerstand meet, wat de weerstand is van de databit van de geheugenchip, kan deze worden gebruikt om te bepalen welke chip kapot is. Normaal gesproken is de weerstand van elk databit hetzelfde. Maar het is nog steeds niet zo intuïtief als een tester, die met deze methode de kwaliteit van DDR-geheugenchips kan meten.
Volgens de gebruikershandleiding bevindt het gemeten geheugen zich in 2A en 2B, wat verwijst naar enkele groep en dubbele groep. Maar er zijn 8 16 bitchips, wat overeenkomt met twee groepen, en 16 8-bitchips, wat overeenkomt met twee groepen.
2A is Groep 1, 2B is Groep 2.
Tijdens de meting worden de databitpinnen van elke chip in elke groep cyclisch getest. Als het na 3 tot 5 tests niet kapot gaat, is het over het algemeen goed. Een goede chip is PASS. Een defecte chip geeft defecte databitpinnen weer.
1. Kan niet deelnemen aan de test tijdens het opstarten, meestal vanwege kortsluiting in de chip of kortsluiting op de printplaat. De oplossing is om de chip te verwijderen en te vervangen door een goede printplaat om de kwaliteit van de chip te testen en te kijken wat het probleem is.
2. De geheugentester test geen SPD-chips, SPD-chips zijn optioneel
3. Als de gouden vinger brandt, kan deze niet worden getest. De chip moet worden verwijderd en teruggeplaatst op een goede printplaat om de kwaliteit ervan te testen
