Toepassingen van metallografische microscopen in diverse industriële sectoren
Metallografische microscopen werden voor het eerst afgeleid van metallografie. Hun primaire doel is het observeren van metallografische structuren, waardoor het gespecialiseerde instrumenten worden die exclusief zijn ontworpen voor het onderzoeken van de metallografische structuren van ondoorzichtige objecten zoals metalen en mineralen. Deze ondoorzichtige objecten kunnen niet worden waargenomen onder gewone transmissielichtmicroscopen; Daarom ligt het belangrijkste verschil tussen metallografische microscopen en gewone microscopen in het feit dat de eerste gereflecteerd licht gebruikt voor verlichting, terwijl de laatste afhankelijk is van doorvallend licht.
Metallografische microscopen worden gekenmerkt door uitstekende stabiliteit, heldere beeldvorming, hoge resolutie en een groot, vlak gezichtsveld. Naast microscopische observatie via het oculair, kunnen ze ook realtime dynamische beelden weergeven op computerschermen (of digitale camera's). De vereiste afbeeldingen kunnen worden bewerkt, opgeslagen en afgedrukt, met primaire toepassingen op gebieden als hardware, metallografische secties, IC-componenten en LCD/LED-productie.
Metallografische microscopen zijn uitgerust met vijf soorten objectieflenzen: EPI Brightfield Fluorescentie, BD Brightfield/Darkfield, SLWD (Super Long Working Distance), ELWD (Enhanced Long Working Distance) en lenzen met een correctiekraag. In de hardware-industrie kunnen voor hardwareonderdelen met ernstige reflectie BD Brightfield/Darkfield-objectieflenzen worden geselecteerd voor observatie. In de LCD-industrie kunnen metallografische microscopen bij het observeren en meten van geleidende deeltjes bijvoorbeeld worden uitgerust met DIC (Differential Interference Contrast) om meer drie- dimensionale beeldvorming te verkrijgen. DIC maakt gebruik van polarisatietechnologie.-Gepaarde polarisatiefilters vormen een gepolariseerd microscopisch observatiesysteem. Gebaseerd op de dubbelbrekende eigenschappen van objecten, verandert het directioneel het optische pad. Polarisatie heeft echter alleen betekenis als het wordt gebruikt in combinatie met DIC; het dient alleen geen praktisch doel. Wanneer metallografische microscopen worden gebruikt voor het meten en analyseren van objecten op micro-grootte, zoals IC-componenten en metallografische secties, kan de intelligente software Iview-DIMS worden gebruikt.
Deze software biedt een hoge nauwkeurigheid, waardoor menselijke meetfouten effectief worden verminderd. Het is gemakkelijk te leren en te gebruiken, waardoor nauwkeurige metingen en analyses mogelijk zijn van relevante dimensies zoals punten, lijnen, bogen, stralen, diameters en hoeken. Het ondersteunt ook het eenvoudig vastleggen van meetbeelden en het aanpassen van verschillende testrapporten.
